Pratique de l'imagerie au microscope électronique à balayage Option matériaux métalliques

Code Stage : FCEA12

Tarifs

1260 € net

Particuliers : vous ne bénéficiez d'aucune prise en charge ou vous êtes demandeur d'emploi ? Découvrez nos tarifs adaptés à votre situation

Nombre d'heures

14

25 juin 2020 - 26 juin 2020
Stage de deux jours.
Nombre de participants limité à 4.

Responsable

Zehoua Hamouche, Maitre de conférences, Equipe pédagogique Matériaux Industriels du CNAM

Publics et conditions d'accès

Opérateurs débutants, n'ayant pas encore ou très peu manipulé sur un MEB.

Prérequis :

Avoir suivi le stage "Introduction à la microscopie électronique à balayage (personnes débutantes)" (EA01), ou posséder les connaissances théoriques physiques correspondantes.

Objectifs

  • Utiliser et régler de façon optimale un microscope à balayage (MEB) pour réaliser des images en métallographie et fractographie des matériaux métalliques.
  • Dégager les principes physiques transposables à l'utilisation d'autres modèles de microscope à balayage.
Compétences visées :
  • Acquérir les bases pratiques et choisir les conditions opératoires optimales pour une utilisation efficace du MEB
  • Savoir interpréter correctement les images réalisées au MEB

Les + du stage :

• 80% de la formation se déroule sous forme de travaux pratiques (maximum 4 personnes sur l’ instrument)
• Mise à disposition d’un large panel d'échantillons pour se familiariser avec les différents réglages et modes d’imagerie

Voir aussi les formations en

Programme

Jour 1 :

  1. Rappels théoriques : interactions électron/matière, principe d'un MEB
  2. Introduction à la préparation d'échantillons, métallisation
  3. Formation de l'image de routine en électrons, traitement des images,
    Interprétation des images : contrastes topographique et chimique

Jour 2 :

Optimisation de l'image formée avec le détecteur d'électrons secondaires : influence des principaux paramètres (tension, courant, réglages faisceau, distance de travail, profondeur de champs, grandissement...) sur la résolution

Jour 3 :

  1. Images formées avec le détecteur d'électrons rétrodiffusés - Entretien du MEB
  2. Choix optimal pour un échantillon donné

Moyens pédagogiques :

14 heures de travaux dirigés effectués sur un appareil EVO MA10 de chez Zeiss en groupe limité à quatre personnes.
Chaque participant est à tour de rôle opérateur pour chacun des exercices proposés.

Moyens techniques :

Tableau blanc, vidéoprojecteur

Modalités de validation :

Attestation de participation remise en fin de stage – Pas d'examen final

Contact

Posez-nous vos questions via ce formulaire (cliquer ici) ou en appelant le 01 58 80 89 72
Du lundi au vendredi, de 09h30 à 17h00

Centre(s) d'enseignement

Complément lieu

Paris IIIe

Session(s)

du 26 juin 2019 au 27 juin 2019

du 25 juin 2020 au 26 juin 2020