Introduction à la microscopie électronique à balayage et à la microanalyse x élémentaire (personnes débutantes)

Code Stage : FCEA01

Tarifs

2400 € net

Particuliers : vous ne bénéficiez d'aucune prise en charge ou vous êtes demandeur d'emploi ? Découvrez nos tarifs adaptés à votre situation

Nombre d'heures

24

8 octobre 2019 - 11 octobre 2019
Stage de quatre jours.
Nombre participants limité à 20.

Responsable

François Brisset, Ingénieur de recherches, Université d’Orsay – Paris Sud
Organisé en collaboration avec l’Université Paris-Sud / CNRS

Publics et conditions d'accès

Ingénieurs, techniciens supérieurs et chercheurs débutant ou faux débutants dans le domaine de l'observation des matériaux solides par microscopie électronique : métallurgistes, mécaniciens, chimistes et géologues, etc. et la microanalyse EDS.

Objectifs

  • Acquérir les bases théoriques et pratiques nécessaires à l’utilisation d’un microscope électronique à balayage et d’un système de microanalyse.
  • Identifier les divers phénomènes physiques rencontrés dans la colonne d’un MEB et lors des interactions entre un faisceau électronique et la matière.
  • Appréhender la spectrométrie X à sélection d'énergie et l'analyse qualitative, principalement.
  • Repérer les techniques de préparation des échantillons.
  • S'initier à l'interprétation des phénomènes, des mesures effectuées et des images enregistrées.

Les +

Au cours d'une journée de démonstration sur appareils, les diverses possibilités des instruments seront passées en revue de façon pratique avec des opérateurs expérimentés.

Voir aussi les formations en

Programme

  1. Jour 1 :
    1. Présentation
    2. Interaction électrons/matière
    3. Optique électronique et détecteurs
  2. Jour 2 :
    1. Formation de l’image
    2. Principe de la spectrométrie à sélection d’énergie
    3. Introduction à la microanalyse quantitative
  3. Jour 3 :
    1. Travail avec les appareils
  4. Jour 4 :
    1. Préparation d’échantillons et artéfacts
    2. Suivi des systèmes MEB et EDS
    3. Introduction à la microscopie à pression contrôlée
    4. Bilan interactif

Centre(s) d'enseignement

Complément lieu

Paris IIIème

Session(s)

du 8 octobre 2019 au 11 octobre 2019


8, 9, 10, 11 octobre 2019

Contact

Posez-nous vos questions via ce formulaire (cliquer ici) ou en appelant le 01 58 80 89 72
Du lundi au vendredi, de 09h30 à 17h00